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7-30
X射線熒光光譜儀是一種分析物質(zhì)組成和結(jié)構(gòu)的實驗儀器。它利用X射線激發(fā)樣品中原子的內(nèi)層電子躍遷,導(dǎo)致外層電子填補內(nèi)層空位并發(fā)出熒光輻射的現(xiàn)象,通過測量這些熒光輻射的能量和強(qiáng)度來確定樣品中不同元素的存在及其相對含量。它可以對物質(zhì)進(jìn)行非破壞性的分析。它通過對物質(zhì)中X射線的激發(fā)產(chǎn)生的熒光信號進(jìn)行測量,來確認(rèn)物質(zhì)中的成分和含量。X射線熒光光譜儀的主要部件包括X射線管、樣品臺、能量分析器等。X射線管是產(chǎn)生X射線的主要部件,它由陽極和陰極組成,當(dāng)高壓電施加到陽極和陰極之間時,陰極會發(fā)射電子...
7-26
在當(dāng)今科技迅猛發(fā)展的時代,精確度和可靠性成為了各行業(yè)競爭的焦點。在制造業(yè)中,德國蔡司三坐標(biāo)測量機(jī)作為一種關(guān)鍵的測量工具,扮演著重要的角色。本文將介紹基本原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及其在創(chuàng)新時代下的嶄新發(fā)展。德國蔡司三坐標(biāo)測量機(jī)是一種通過測量物體在三個坐標(biāo)軸上的坐標(biāo)值,來確定其形狀、尺寸和位置的高精度測量設(shè)備。它通常由測量傳感器、運動控制系統(tǒng)和計算機(jī)軟件組成。利用三坐標(biāo)測量機(jī),可以對物體進(jìn)行非接觸式的三維測量,并獲得相應(yīng)的測量數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)可以用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品開發(fā)、工藝改進(jìn)等領(lǐng)域。三坐...
7-17
場發(fā)射掃描電子顯微鏡是一種*而強(qiáng)大的顯微鏡技術(shù),能夠以驚人的細(xì)節(jié)和清晰度呈現(xiàn)微觀世界的奇跡。本文將介紹原理、應(yīng)用和未來發(fā)展前景。在場發(fā)射掃描電子顯微鏡中,電子束由陰極產(chǎn)生,并經(jīng)過一系列透鏡系統(tǒng)對其進(jìn)行聚焦。相比傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡(SEM),具備更高的分辨率和靈敏度。這是因為采用了場發(fā)射效應(yīng),即在一個極小的區(qū)域內(nèi)實現(xiàn)電子的發(fā)射。這使得電子束更為集中、穩(wěn)定,并且具有更高的速度和能量。還利用掃描線圈和檢測器來生成高分辨率的圖像,可以呈現(xiàn)樣品表面的微觀形貌、組成和結(jié)構(gòu)等信息。在各個...
7-10
美國TA差式掃描量熱儀是一種*實驗儀器,用于測量化學(xué)反應(yīng)釋放或吸收的能量變化。它通過差示熱量計原理,能夠提供高精度和高靈敏度的數(shù)據(jù),為研究者們深入了解化學(xué)過程中的能量轉(zhuǎn)化提供了重要工具。美國TA差式掃描量熱儀的工作原理基于兩個樣品盒:參考盒和測試盒。這兩個盒子中分別裝有參比物和待測物質(zhì)。參比物是已知熱容和熱特性的樣品,而待測物質(zhì)則是需要研究的化學(xué)反應(yīng)物。當(dāng)兩個盒子同時受到相同的溫度程序控制時,會測量兩個盒子之間的溫度差異,并據(jù)此計算出反應(yīng)過程中釋放或吸收的能量。具有多項優(yōu)勢。...
7-7
絕緣電阻測試系統(tǒng)是一種關(guān)鍵設(shè)備,用于評估電氣設(shè)備的絕緣性能。其主要功能是檢測設(shè)備與大地之間的絕緣電阻,以確保電氣系統(tǒng)的安全運行。本文將介紹工作原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及其在保護(hù)人員和設(shè)備安全方面的重要性。首先,讓我們了解一下絕緣電阻測試系統(tǒng)的工作原理。該系統(tǒng)通過向電氣設(shè)備施加特定的測試電壓,然后測量電流來計算絕緣電阻值。如果絕緣電阻低于預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn),系統(tǒng)會發(fā)出警報,表明設(shè)備存在絕緣故障風(fēng)險。這種測試系統(tǒng)通常采用高精度的測量儀器和嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn),以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。絕緣電阻測試系統(tǒng)...
6-29
輝光放電發(fā)射光譜儀是一種對金屬和非金屬固體材料進(jìn)行定性和定量分析的光譜方法,用來檢測鍍層厚度及化學(xué)成分金屬材料基體化學(xué)成分。測量原理:將樣品置于輝光放電源中,作為陰極進(jìn)行切換。輝光放電源在低壓下充滿氬氣。在空心陽極和陰極之間施加直流電壓(樣品)。由于直流電壓的能量輸入,氬原子被電離,形成等離子體。氬離子向負(fù)樣品表面加速并擊落一些樣品原子(“濺射”)。被濺射出的樣品原子擴(kuò)散到等離子體中,在那里它們與高能電子碰撞。在這些碰撞過程中,能量被傳遞給樣品原子,促使它們進(jìn)入激發(fā)態(tài),并很快...
6-27
美國TA熱重分析儀是一種能夠測定樣品隨時間或溫度變化而改變質(zhì)量的儀器。它可以通過監(jiān)測樣品質(zhì)量的變化來探索材料的熱穩(wěn)定性、氧化性、分解機(jī)理等信息。作為一種常見的實驗室測試設(shè)備,TA在材料科學(xué)、化學(xué)、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用。美國TA熱重分析儀是熱重分析儀領(lǐng)域的一款品牌,其產(chǎn)品具有高精度、高靈敏度、高自動化等特點,廣受用戶認(rèn)可。下面將從原理、技術(shù)特點、應(yīng)用等方面介紹。一、原理TA熱重分析儀主要基于樣品質(zhì)量對溫度和時間的響應(yīng)曲線進(jìn)行測試。當(dāng)樣品被加熱時,樣品中的化學(xué)鍵被打斷,產(chǎn)生...
6-19
掃描電子顯微鏡SEM是一種常見的顯微鏡,它利用電子束來成像樣品的表面結(jié)構(gòu),比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡具有更高的分辨率和放大倍數(shù)。本文將介紹原理、應(yīng)用以及未來發(fā)展趨勢。探秘掃描電子顯微鏡SEM的原理是基于電子束與物質(zhì)的相互作用而形成圖像。電子束從電子槍中發(fā)射出來,經(jīng)過加速器后被聚焦在一個非常小的點上,然后照射到樣品表面上。樣品會反射、散射或透射電子束,這些信號被探測器捕捉并轉(zhuǎn)換為電信號,最終形成圖像。SEM的分辨率通常可以達(dá)到納米級別,因為電子束的波長比可見光短得多。同時,可以提供三維圖...